Найти книгу: "Рефлектометрия поляризованных нейтронов"

В книге на материале экспериментальных данных описан метод исследований слоистых наноструктур, основанный на использовании зеркального отражения, пропускания, преломления и рассеяния поляризованных нейтронов. На конкретных примерах изложены элементы теории прохождения нейтронов через слоистую структуру с учетом их диффузного рассеяния на шероховатостях границ раздела. Подробно рассмотрены режимы нейтронного волнового поля в слоистой структуре, позволяющие проводить высокочувствительные измерения ядерной и магнитной структур. Описана практически вся экспериментальная техника, используемая в измерениях с поляризованными нейтронами при скользящих углах падения нейтронов. Большое внимание уделено дальнейшему развитию метода рефлектометрии с поляризованными нейтронами. Книга будет полезной научным работникам, желающим применить данный метод в исследованиях нанообъектов, а также студентам физических специальностей вузов.

В статье дается анализ специфики программных систем автоматизации экспериментов (САЭ). Показаны причины потери возможности повторного использования компонентов. Сформулирована концепция автоматически компонуемой распределенной САЭ, обеспечивающей использование компонентов в разных экспериментах без изменения других частей системы и модификацию САЭ пользователями. Определены ключевые задачи, решение которых необходимо для построения такой системы, и описано их решение с использованием современных сетевых технологий. Ряд разработанных типовых компонентов проверен в реальных экспериментах на источниках нейтронов ИБР-2 и ИРЕН. Работа выполнена в соответствии с протоколом о совместных работах Лаборатории нейтронной физики им. И. М. Франка ОИЯИ и университета «Дубна».

Кратко изложены основы сертификации, в том числе и лиотропной нанопродукции, а также современные методы исследования, в частности, метод малоуглового нейтронного рассеивания в сочетании с компьютерным моделированием.

Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».