Скачать книгу - Трехмерная лазерная модификация объемных светочувствительных материалов



Объектами исследования в настоящей монографии являются объемные фазовые голограммы, в том числе с наложенной записью, фотонно-кристаллические решетки, неоднородные объемные голограммы, свойственные «проблемным» средам, фазовые микрорешетки с дискретно изменяемой фазой и трехмерные матрицы таких микрорешеток. Опытным путем подтверждена возможность записи однородных микро- и макрорешеток во всем объеме фотополимерных материалов и кристаллов ниобата и танталата лития. Представлены физические основы и экспериментальные методы трехмерной лазерной модификации фоторефрактивных сред в режимах линейного и нелинейного (двухфотонного, двухступенчатого) поглощения. Рассмотрены методы синтеза толстых фотополимерных материалов с фотоиндуцированным изменением показателя преломления и полимерно-жидкокристаллических композитов. Предложены томографические лазерные методы послойного исследования внутренних физических свойств объемных сред. Монография предназначена для научных работников, инженеров и аспирантов, специализирующихся в области оптической объемной голографии и ее приложений, а также для студентов университетов физико-технического профиля.


OpenGL. Трехмерная графика и язык программирования шейдеров. Для профессионалов OpenGL. Трехмерная графика и язык программирования шейдеров. Для профессионалов

Автор: Рэнди Дж. Рост

Год издания: 

Это практическое пособие для опытных разработчиков приложений трехмерной графики. Оно представляет собой исчерпывающее и при этом занимательное введение в язык шейдеров высокого уровня. В нем обстоятельно описан переход от стандартной функциональности графических ускорителей к программируемому графическому аппаратному обеспечению и дополнениям к API OpenGL. Пособие содержит множество примеров, иллюстрирующих приемы работы с графикой, и лежащие в их основе алгоритмы.


Сопротивление материалов. Краткий курс. Для студентов вузов Сопротивление материалов. Краткий курс. Для студентов вузов

Автор: Агамиров Л.В.

Год издания: 

В книге рассматриваются основные разделы курса `Сопротивление материалов`, предусмотренные образовательным стандартом РФ: растяжение и сжатие, сдвиг (срез), кручение, плоский прямой поперечный изгиб, рассмотрены теории прочности и методы расчета при различных схемах нагружения. Эти разделы изложены в краткой конспективной форме и содержат необходимые примеры. Настоящее учебное пособие предназначено для студентов инженерных специальностей высших учебных заведений.


Электротехническое материаловедение. Электроизоляционные материалы Электротехническое материаловедение. Электроизоляционные материалы

Автор: Серебряков А.С.

Год издания: 

В учебном пособии рассмотрены основные физические явления, происходящие в диэлектриках при воздействии на них электрического поля: поляризация, электропроводность, диэлектрические потери и пробой изоляции. Дан анализ процессов в комбинированных диэлектриках. Рассказано о важнейших физических свойствах электроизоляционных материалов. Рассмотрены основные механизмы старения изоляции и их влияние на ее срок службы. Приведены экспериментальные данные по старению изоляции тяговых электродвигателей в зависимости от их пробега, сведения о профилактическом контроле, диагностике и испытаниях изоляции электротехнических установок. Описано применение диэлектриков в наиболее распространенных изоляционных конструкциях. Предлагается словарь иностранных технических терминов, встречающихся в пособии.


Материаловедение. Бетоны и строительные растворы Материаловедение. Бетоны и строительные растворы

Автор: Корчагина О.А., Однолько В.Г.

Год издания: 

В данном учебном пособии рассмотрены вопросы, изучаемые в разделе "Бетоны и строительные растворы". Приведены материалы для проведения лабораторных работ и практических занятий. Предназначены для студентов 2, 3 курсов и магистрантов специальности 270100.


Материаловедение в микроэлектронике Материаловедение в микроэлектронике

Автор: Палатник Л.С

Год издания: 

Работы по получению и изучению пленок проводятся в течение многих лет. Однако, закономерности формирования структуры пленок остаются слабо изученными, что связано с чрезвычайно малыми нанометровыми размерами объекта исследования. В свою очередь объяснение и прогнозирование свойств пленок непосредственно обуславливается не только толщиной, но и структурой последних.